KZT QFN52-0.4翻盖老化座 芯片测试座 6*6mm

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座,对QFN52的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:QFN52引脚间距0.4mm

C、测试座:QFN52-0.4

D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长

E、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD

规格尺寸

A、型号:QFN-52-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:52

D、芯片尺寸:6*6mm

KZT QFN52-0.4翻盖老化座 芯片测试座 6*6mm_第1张图片

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